產(chǎn)品時間:2024-12-27
硬件參數(shù)指標 雙恒電位儀:單恒電位電位控制范圍:±10V雙恒電位儀電位控制范圍:±10V 恒電流控制范圍:±2.0A 電位控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV 電流控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù) 電位靈敏度:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) 電流靈敏度:<10pA 電位上升時間:<1μS(<10mA),<10μ
雙單元電化學工作站 雙恒電位儀 電化學分析儀
型號:CS2350
CS2350雙單元電化學工作站是基于常規(guī)單通道系列CS350型發(fā)展而來,內(nèi)置兩套獨立的恒電位/恒電流儀,每套恒電位儀各有一套輔助、工作和參比電極輸出,并由Corrtest軟件來協(xié)調(diào)輸出電位/電流。
CS2350工作時分主單元和從單元兩路,從單元采用浮地模式實現(xiàn)對第二工作電極WEII的電位/電流控制。第二工作電極電位可以保持在獨立的恒定電位或電流值,也可實現(xiàn)獨立于*工作電極的線性掃描或循環(huán)伏案掃描等測試。
因此,CS2350除了具備單通道工作站的所有特點,還可用于電化學反應中間產(chǎn)物的檢測。
典型應用
①配合旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極用于研究電化學氧化還原體系,在測量圓盤電極極化曲線的同時,控制圓環(huán)電極于一個固定的極化電勢,用以檢測圓盤電極上產(chǎn)生的反應中間物,該方法也成為檢測反應中間物和研究電極反應機理的典型流體動力學方法。
②金屬中氫擴散測試,兩個恒電位裝置配合Devnathan-Stachurski雙電解池,通過左側(cè)電解池的陰極充氫和右側(cè)電解的氫原子陽極氧化電流測量,進而計算氫原子在金屬中擴散系數(shù)和氫通量。
硬件參數(shù)指標
雙恒電位儀:單恒電位電位控制范圍:±10V 雙恒電位儀電位控制范圍:±10V | 恒電流控制范圍:±2.0A |
電位控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù) |
電位靈敏度:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度:<10pA |
電位上升時間:<1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流量程:2A~200nA, 共8檔 |
參比電極輸入阻抗:1012Ω||20pF | 大輸出電流:2.0A |
槽壓輸出:±21V | 電流掃描增量:1mA @1A/mS |
CV和LSV掃描速度:0.001mV~10000V/s | 電位掃描電位增量:0.076mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s | DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s |
SWV頻率:0.001~100KHz | CV的小電位增量:0.075mV |
AD數(shù)據(jù)采集:16bit@1MHz,20bit @1kHz | 電流與電位量程:自動設置 |
DA分辨率:16bit,建立時間:1μS | 低通濾波器 :8段可編程 |
通訊接口:USB2.0 | 儀器重量:6.5Kg |
外形尺寸(cm):36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
電化學阻抗測量參數(shù)
信號發(fā)生器 | |
頻率響應:10μHz~1MHz | 交流信號幅值:1mV~2500mV |
頻率精確度:0.005% | 信號分辨率:0.1Mv RMS |
直流偏壓:-10V~+10V | DDS輸出阻抗:50Ω |
波形:正弦波,三角波,方波 | 正弦波失真率:<1% |
掃描方式:對數(shù)/線性,增加/下降 | |
信號分析器 | |
大積分時間:106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲:0~105秒 |
小積分時間:10mS 或者一個循環(huán)的長時間 | |
直流偏置補償 | |
電位補償范圍:-10V~+10V | 電流補償范圍:-1A~+1A |
帶寬調(diào)整:自動或手動設置, 共8級可調(diào) |
CS2350雙單元電化學工作站功能方
能 方 法 | 主單元 | 從單元 | 能 方 法 | 主單元 | 從單元 | ||
穩(wěn) 態(tài) 極 化 | 開路電位測量(OCP) | • | • | 溶 出 伏 安 | 恒電位溶出伏安 | • | |
恒電位極化(i-t曲線) | • | • | 線性溶出伏安 | • | |||
恒電流極化 | • | • | 階梯溶出伏安 | • | |||
動電位掃描(TAFEL曲線) | • | • | 方波溶出伏安 | • | • | ||
動電流掃描(DGP) | • | 交 流 阻 抗 | 電化學阻抗(EIS)~頻率掃描 | • | • | ||
暫 態(tài) 極 化 | 任意恒電位階梯波 | • | 電化學阻抗(EIS)~時間掃描 | • | |||
任意恒電流階梯波 | • | 電化學阻抗(EIS)~電位掃描(Mott-Schottky曲線) | • | ||||
恒電位階躍(VSTEP) | • | ||||||
恒電流階躍(ISTEP) | • | 腐 蝕 測 量 | 循環(huán)極化曲線(CPP) | • | • | ||
快速電位脈沖 | • | 線性極化曲線(LPR) | • | • | |||
快速電流脈沖 | • | 動電位再活化法(EPR) | • | ||||
計 時 分 析 | 計時電位法(CP) | • | 電化學噪聲 (EN) | • | |||
計時電流法(CA) | • | 電偶腐蝕測量 (ZRA) | • | ||||
氫擴散測試(HDT)* | |||||||
計時電量法(CC) | • | 電 池測 試 | 電池充放電測試 | • | • | ||
伏 安 分 析 | 線性掃描伏安法(LSV) | • | • | ||||
線性循環(huán)伏安法(CV) | • | • | 恒電流充放電 | • | |||
階梯循環(huán)伏安法(SCV) | • | ||||||
差分脈沖伏安法(DPV) | • | 擴 展 測 量 | 盤環(huán)電極測試 * | • | |||
常規(guī)脈沖伏安法(NPV) | • | 數(shù)字記錄儀 | • | • | |||
方波伏安法(SWV) | • | 波形發(fā)生器 | • | • | |||
交流伏安法(ACV) | • | 圓盤電機控制 | • | • | |||
常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV) | • | ||||||
二次諧波交流伏安 (SHACV) | • |
儀器配置:
1)儀器主機1臺
2)CorrTest測試與分析軟件1套
3)電解池(含鹽橋和排氣管)2套
4)鉑金電極、參比電極、工作電極各2支
5)模擬電解池1個
6)電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
7)電極電纜線2條
8)屏蔽箱(選配*)